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다구찌·샤이닌 실험계획법 — 로버스트 설계와 Red X 전략

다구찌의 직교배열·S/N비·손실함수·파라미터 설계와, 샤이닌의 Red X 전략·Multi-Vari 차트·B vs C 비교법을 고전 DOE와 비교하며 정리합니다.

최종 수정: 2026년 5월 23일
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왜 로버스트 설계인가?

고전 DOE(완전요인실험)는 통제된 실험실 조건에서 최적 조건을 찾습니다.
하지만 실제 공정·현장에서는 잡음(Noise)이 항상 존재합니다.

고전 DOE 접근:
  "잡음을 제거한 최적 조건" → 현장에서 성능 저하 위험

로버스트 설계 접근:
  "잡음이 있어도 성능이 안정적인 조건" → 현장 내구성
구분고전 DOE다구찌/샤이닌
목적최적값 탐색변동 최소화 (로버스트)
잡음 처리통제/제거활용 (파라미터 설계)
실험 규모클 수 있음상대적으로 소규모
적용 단계공정 최적화설계 단계 우선

PART 1. 다구찌 실험계획법 (Taguchi Method)

다구찌 품질 철학

"품질이란 제품이 출하된 후 사회에 끼치는 손실의 크기다."
— 다구찌 겐이치(田口 玄一)

전통 품질관: 규격 내 = 합격 (0 or 1)
다구찌 관점: 목표값(Target)에서 벗어날수록 연속적으로 손실 발생


1. 손실함수 (Loss Function)

L(y) = k × (y - T)²

y: 실제 특성값
T: 목표값 (Target)
k: 손실 계수 (품질 비용 / 허용차²)

허용차(Δ)와 k의 관계:

k = A₀ / Δ²

A₀: 규격 이탈 시 손실 (수리비, 폐기비 등)
Δ: 허용차 (USL - T 또는 T - LSL)

손실함수 유형

유형목표함수
망목 (Nominal-the-Best)y = TL = k(y-T)²치수, 무게
망소 (Smaller-the-Better)y → 0L = ky²불량률, 소음
망대 (Larger-the-Better)y → ∞L = k(1/y²)강도, 수명

💡 시험 포인트: 세 가지 특성 유형(망목·망소·망대)과 그에 대응하는 S/N비 공식은 단골 문제입니다.


2. 신호대잡음비 (S/N비, Signal-to-Noise Ratio)

S/N비는 평균(신호)과 변동(잡음)을 동시에 고려한 종합 성능 지표입니다.
단위: dB (데시벨), 높을수록 좋습니다.

유형별 S/N비 공식

망목 특성 (Nominal-the-Best):

η = 10 × log₁₀(ȳ² / s²)

ȳ: 반응값 평균, s²: 분산
→ 평균이 크고 분산이 작을수록 η↑

망소 특성 (Smaller-the-Better):

η = -10 × log₁₀(Σyᵢ² / n)

→ 값 자체가 작을수록 η↑

망대 특성 (Larger-the-Better):

η = -10 × log₁₀(Σ(1/yᵢ²) / n)

→ 값이 클수록 η↑

S/N비 해석 예시

두 조건 A, B에서 반복 3회 측정: A = , B =

A: ȳ = 11.0, s² = 1.0
   η(A) = 10×log₁₀(11²/1) = 10×log₁₀(121) = 20.8 dB

B: ȳ = 13.7, s² = 37.0
   η(B) = 10×log₁₀(13.7²/37) = 10×log₁₀(5.07) = 7.1 dB

→ 평균은 B가 높지만 변동이 커서 S/N비는 A가 훨씬 우수

3. 직교배열표 (Orthogonal Array, OA)

다구찌는 부분요인실험을 표준 직교배열로 단순화했습니다.

주요 직교배열

배열 기호실험 수최대 인자 수최대 수준
L₄(2³)432
L₈(2⁷)872
L₉(3⁴)943
L₁₂(2¹¹)12112
L₁₆(2¹⁵)16152
L₁₈(2¹×3⁷)18혼합2~3

읽는 법: L₈(2⁷) = 8번 실험, 2수준 인자 최대 7개

L₈(2⁷) 직교배열 예시

실험 No.A(1열)B(2열)AB(3열)C(4열)AC(5열)BC(6열)ABC(7열)
11111111
21112222
31221122
41222211
52121212
62122121
72211221
82212112

직교성: 어떤 두 열을 선택해도 (1,1), (1,2), (2,1), (2,2) 조합이 균등하게 나타납니다.


4. 파라미터 설계 (Parameter Design)

다구찌 방법의 핵심. 내측 배열(제어 인자)과 외측 배열(잡음 인자)을 분리해 실험합니다.

내측 배열 (Control Factors) — 설계자가 선택 가능한 인자
   × 외측 배열 (Noise Factors) — 현장에서 통제 불가한 잡음

     내측 L₉ 배열
     ┌─────────────────────┐
  외측│  잡음1 잡음2 잡음3 │→ S/N비 계산
 배열│                     │
     └─────────────────────┘

목적: 잡음에 강건한(Robust) 제어 인자 수준 조합 탐색

파라미터 설계 절차

1. 제어 인자 & 수준 선정 → 내측 직교배열 구성
2. 잡음 인자 선정 → 외측 직교배열 구성
3. 실험 수행: 각 내측 조건에 대해 외측 조건 모두 실험
4. 각 내측 조건의 S/N비 계산
5. S/N비가 최대인 내측 조건 = 최적 로버스트 조건
6. 확인 실험(Confirmation Run)

5. 허용차 설계 (Tolerance Design)

파라미터 설계 후에도 목표 성능 미달 시, 부품 허용차를 좁혀 품질을 확보합니다.

파라미터 설계 (저비용):
  제어 인자 수준 선택 → 잡음 영향 감소

허용차 설계 (고비용):
  부품 정밀도↑, 재료 등급↑ → 추가 비용 발생

→ 파라미터 설계를 먼저, 부족할 때만 허용차 설계 적용

PART 2. 샤이닌 DOE (Shainin System)

샤이닌 철학

"공정 변동의 80%는 소수의 핵심 원인(Red X)에서 온다."
— 도니 샤이닌(Dorian Shainin)

80:20 법칙 적용:
  Red X   = 가장 큰 원인 (단 하나 또는 소수)
  Pink X  = 2번째 원인
  Pale Pink X = 나머지 잡음

샤이닌은 탐정처럼 Red X를 좁혀가는 수렴형 접근법입니다.


6. 샤이닌 주요 기법

6-1. Multi-Vari 차트

변동을 위치(Positional)·사이클(Cyclical)·시간(Temporal) 으로 분류합니다.

변동 분류:
  위치 변동: 같은 제품 내 부위별 차이 (예: 상/중/하 직경)
  사이클 변동: 같은 공정 사이클 간 차이 (제품 간)
  시간 변동: 장기 추세, 교대조 간 차이

→ 어떤 변동이 가장 큰지 파악 → Red X 탐색 범위 좁힘

실무 절차:

  1. 연속 3~5개 제품의 여러 부위를 측정
  2. 그래프로 변동 패턴 시각화
  3. 변동 유형 확인 → 원인 탐색 방향 결정

6-2. B vs C 비교 (Best vs. Current)

현재 공정(C)의 불량품과 최고 제품(B)을 비교해 차이가 있는 인자를 찾는 기법입니다.

절차:
1. "좋은 부품(B)" 과 "나쁜 부품(C)" 각각 선별
2. 모든 측정 가능 파라미터 비교
3. 통계적으로 차이가 나는 파라미터 = Red X 후보

B vs C 비교 통계:
  B 집단과 C 집단의 측정값이 겹치지 않으면
  → 통계적으로 매우 유의한 차이 (확률 1/2^n)

6-3. isoplot (등치선 그래프)

두 생산 조건(공급업체, 장비 등)을 비교할 때 사용합니다.

두 조건(X, Y)의 측정값 쌍을 산점도에 타점:
  45° 선 위 = X가 Y보다 큰 경우
  45° 선 아래 = Y가 X보다 큰 경우
  점들이 45° 선에 무작위 분포 → 차이 없음
  한쪽으로 치우침 → 의미있는 차이

6-4. 부품 탐색 (Component Search)

완성품을 분해해 서브시스템별로 문제 원인을 좁힙니다.

불량품과 양품을 부품씩 교환:
  교환 후 성능 역전 → 교환한 부품이 Red X
  역전 없음 → 다른 서브시스템 탐색

7. 다구찌 vs 샤이닌 vs 고전 DOE 비교

항목고전 DOE다구찌샤이닌
목적최적 조건 탐색로버스트 설계Red X 발견
접근 방식가설 기반 계획파라미터·잡음 분리수렴적 탐색
강점교호작용 정밀 추정설계 단계 품질 내재화소수 핵심 원인 신속 발견
약점실험 횟수 많음교호작용 추정 제한고급 교호작용 분석 약함
통계 기반ANOVA, 회귀S/N비, 직교배열비모수, 간단한 통계
적합 단계공정 최적화설계 단계문제 해결
산업 적용광범위자동차·전기·화학자동차·항공

8. 품질기술사 시험 포인트

주제핵심 암기 내용
손실함수L = k(y-T)² 및 k = A₀/Δ²
S/N비 유형망목·망소·망대 공식 구분
직교배열 기호L₈(2⁷) 읽는 법
내외측 배열제어 인자 vs 잡음 인자 역할
파라미터 설계 목적"잡음에 강건한 조건 탐색"
샤이닌 Red X"변동의 80%는 소수 원인"

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